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質(zhì)子半徑之謎有望破解

發(fā)布時(shí)間:2019-11-07 作者: 來源: 瀏覽:3339
電子散射和氫原子光譜實(shí)驗(yàn),是測定質(zhì)子半徑的兩種主要手段。近年來,通過這兩種方式得到的質(zhì)子半徑出現(xiàn)一定分歧,“質(zhì)子半徑之謎”由此出現(xiàn)。在一項(xiàng)發(fā)表在《自然》雜志的最新研究中,美國托馬斯·杰斐遜國家加速器的科學(xué)家通過高精度的電子散射實(shí)驗(yàn),測出了最新的質(zhì)子半徑為0.831飛米(1飛米等于10^-15米)。這個結(jié)果比之前通過該手段測得的數(shù)值(0.88飛米)更小,而與最新的μ子原子光譜測量結(jié)果相近。接下來,研究團(tuán)隊(duì)希望進(jìn)一步提升測量精度,從而最終確定質(zhì)子半徑。
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