近日，由中國科學技術大學與我院共同完成的“掃描探針顯微鏡漂移測量方法與標準化”課題，榮獲2014年中國分析測試協會科學技術獎（CAIA獎）。

      CAIA獎是分析測試領域唯一的社會力量設獎，獲獎成果反映了國內分析測試領域的最高水平，對加強分析測試領域和相關學科的基礎性和應用性研究、提升我國分析測試與科研探索的創(chuàng)新能力和學術水平做出了重要貢獻。

      “掃描探針顯微鏡漂移測量方法與標準化”研究定義了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的專業(yè)術語，規(guī)定了SPM漂移速率的測量方法和測量程序，不僅為基于SPM測量圖像的漂移速率提供了標準的評價方法，也對其它納米級測量儀器穩(wěn)定性的評價也有著重要參考價值。