日前，上海市計量測試技術(shù)研究院材質(zhì)中心承擔(dān)的上海市科委標(biāo)準專項《微納功能器件表面微區(qū)測量和粒度分析方法研究及其相關(guān)國家標(biāo)準的制訂》（11dz0502100）通過了項目驗收。
　　
　　隨著我國新材料研發(fā)產(chǎn)業(yè)和先進制造業(yè)的快速發(fā)展，納米功能器件已廣泛應(yīng)用于太陽能電池、集成電路、LED光電材料和高性能信息存儲器等領(lǐng)域，微納米功能器件事業(yè)日新月異。我國在納米功能器件領(lǐng)域的研究具有一定的發(fā)展優(yōu)勢和規(guī)模，因此開展納米器件標(biāo)準測量方法研究十分迫切。
　　
　　本項目通過對微納功能器件測量方法研究，完成了《表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率測定》和《粒度分析單顆粒的光學(xué)測量方法第2部分液體顆粒計數(shù)器光散射法》2項國家標(biāo)準的編寫，現(xiàn)正報批。如果該2項國家標(biāo)準順利頒布實施，將為俄歇電子能譜、X射線光電子能譜和液體顆粒計數(shù)器等納米檢測儀器提供統(tǒng)一的標(biāo)準測量方法，有效地保證各單位間測量結(jié)果的準確性、可比性，能夠?qū)Λ@得更為精確的納米器件測量表征結(jié)果提供技術(shù)支持，保障我國納米功能器件等新材料產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展。