近日宣布，公司最近推出的檢測創(chuàng)新在四月份的兩項重要會展中贏得幾項工業(yè)獎。

      在Nepcon Shanghai 2008上，Agilent Medalist x6000自動X射線檢測解決方案贏得SMT China雜志頒發(fā)給檢測（AXI門類）的第二屆SMT China遠見獎。今年早些時候，Medalist x6000也榮獲Test and Measurement World 雜志2008 年最佳測試獎的榮譽獎

     作為Medalist VTEP v2.0 供電無矢量測試套件組成部分的Agilent網(wǎng)絡參數(shù)測量技術(shù)，也在Nepcon Shanghai 2008上贏得測試系統(tǒng)?設(shè)備門類中的電子制造（EM）亞洲創(chuàng)新獎。

      Agilent 公司的覆蓋擴展技術(shù)是VTEP V2.0供電套件中最新增添的有限接入解決方案，在拉斯維加斯的APEX展會上被選定為 IPC創(chuàng)新技術(shù)中心獎的勝出者。

      行業(yè)主導出版物和組織把這些獎項授予市場上最富創(chuàng)新的技術(shù)、應用、產(chǎn)品和服務。

      Agilent 測量系統(tǒng)部營銷總監(jiān)NK Chari表示：“對業(yè)界認可我們在檢測領(lǐng)域的創(chuàng)新，我們深感榮幸，我們要通過不斷創(chuàng)新推出最完整的成套檢測解決方案，以幫助制造商應對技術(shù)和商務的挑戰(zhàn)?！?/P>