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國(guó)內(nèi)自主研發(fā)出Otek自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀

發(fā)布時(shí)間:2008-04-28 作者: 來(lái)源: 瀏覽:677

  Otek自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀是福信光電集成有限公司自主研發(fā)的AOI設(shè)備,由長(zhǎng)期在國(guó)外從事自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域研發(fā)工作的留美博士領(lǐng)銜開(kāi)發(fā)。把國(guó)際最先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù)和中國(guó)本土的貼片生產(chǎn)實(shí)際情況有機(jī)的結(jié)合起來(lái),研發(fā)出適合中國(guó)國(guó)情的先進(jìn)的AOI設(shè)備。
 ?。希簦澹搿∽詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的最大特點(diǎn)和最核心的設(shè)計(jì)理念就是它的易用性。在設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)過(guò)程中,充分考慮到國(guó)內(nèi)的實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境和人員情況,使Otek 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀具有很好的適應(yīng)性?!。希簦澹搿∽詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀有在線式和離線式兩種。Otek自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀具有以下技術(shù)特性:

  (1)強(qiáng)大的檢測(cè)功能?。希簦澹搿∽詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀采用自主開(kāi)發(fā)的歸一化的彩色相關(guān)算法(normalized color correlation)來(lái)代替一般使用的灰度相關(guān)算法。由于彩色相關(guān)算法充分利用彩色圖像中的紅綠蘭(RGB)三基色的全部信息,所以比灰度相關(guān)算法具有更高的識(shí)別準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。彩色相關(guān)算法所利用的信息量比灰度相關(guān)算法多2倍,所以彩色相關(guān)的運(yùn)算速度也減慢2倍,但是通過(guò)采用專(zhuān)門(mén)為多媒體應(yīng)用所開(kāi)發(fā)的專(zhuān)門(mén)運(yùn)算指令集(MMX)技術(shù)使得Otek自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀可以在同樣或者更短的時(shí)間內(nèi)搜索更多的圖像信息。采用彩色相關(guān)算法還可以識(shí)別灰度算法很難識(shí)別的彩色標(biāo)示的器件,如電容等?!。希簦澹胱詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀依靠特殊的光源設(shè)置,可以使焊點(diǎn)在少錫和多錫時(shí)的圖像與正常情況時(shí)圖像的明暗程度發(fā)生明顯變化,從而可以檢測(cè)出焊錫錯(cuò)誤。Otek的焊錫檢測(cè)算法具有檢測(cè)準(zhǔn)確度高、誤檢低的特點(diǎn)?!。希簦澹搿∽詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的焊腳檢測(cè)算法與其他產(chǎn)品相比,對(duì)焊腳絕對(duì)位置的依賴(lài)性大幅度降低,所以Otek 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀可以在定位精度相同甚至略低的情況下取得更好的焊腳檢測(cè)效果?!∷械模希簦澹霗z測(cè)算法都操作簡(jiǎn)單,無(wú)需作任何參數(shù)調(diào)整。

  (2)強(qiáng)大的學(xué)習(xí)功能?。希簦澹胱詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀對(duì)各種規(guī)格、類(lèi)型器件都可以通過(guò)在器件輪廓處畫(huà)框?qū)W習(xí),無(wú)需作任何特殊處理,Otek軟件會(huì)根據(jù)器件類(lèi)型作相應(yīng)的特征抽取、算法優(yōu)化等自動(dòng)處理。電阻、電容的焊錫的學(xué) 習(xí)和IC焊腳的學(xué)習(xí)都是自動(dòng)的,非常便利、快捷。編程時(shí)間通常小于0.5小時(shí)。所有的Otek檢測(cè)算法都操作簡(jiǎn)單,無(wú)需作任何參數(shù)調(diào)整,而且可以在檢測(cè)過(guò)程中不斷學(xué)習(xí)新的圖像信息,無(wú)需專(zhuān)門(mén)的調(diào)試 (debug)階段?!。希簦澹刖幊痰膶W(xué)習(xí)過(guò)程同時(shí)也是檢測(cè)過(guò)程,學(xué)習(xí)用過(guò)程可以使用的含由各種錯(cuò)誤的電路板,無(wú)需完全正確的標(biāo)準(zhǔn)板(golden board)。學(xué)習(xí)過(guò)程會(huì)檢測(cè)出所學(xué)電路板的錯(cuò)誤,可以在生產(chǎn)線上新板的調(diào)試過(guò)程中就發(fā)揮檢測(cè)作用。

  (3)強(qiáng)大的信息采集和信息共享功能?。希簦澹搿∽詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀把檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的所有錯(cuò)誤信息都存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)里,通過(guò)Otek?。樱校媚K軟件,管理人員和技術(shù)人員可以準(zhǔn)確實(shí)時(shí)的把握整個(gè)SMT生產(chǎn)線的工作情況,對(duì)各種異常作出實(shí)時(shí)診斷和處理。 使用Otek的維修工作站,維修人員通過(guò)掃描條形碼的方式,可以迅速準(zhǔn)確地調(diào)出每塊錯(cuò)誤電路板的相關(guān)檢測(cè)的位置圖像信息,并進(jìn)行修復(fù)工作?!。ǎ矗┖?jiǎn)明的全中文界面?。希簦澹搿∽詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀在國(guó)內(nèi)開(kāi)發(fā)、為國(guó)內(nèi)開(kāi)發(fā),具有全中文的用戶界面和全中文的用戶文檔,因此國(guó)內(nèi)用戶使用非常方便。熟悉的Windows點(diǎn)擊和拖拉式操作方式,使國(guó)內(nèi)操作和編程人員倍感輕松,操作人員的培訓(xùn)一般不超過(guò)1.0小時(shí)。編程人員培訓(xùn)一般不超過(guò)0.5天。

 ?。ǎ担┖?jiǎn)單的生產(chǎn)環(huán)境要求 只需要器件的XY坐標(biāo)和電路板的出料單(BOM)或者貼片機(jī)導(dǎo)出文件就可以自動(dòng)學(xué)習(xí),無(wú)需建立維護(hù)專(zhuān)門(mén)的元件庫(kù)、封裝庫(kù)、或者復(fù)雜的轉(zhuǎn)換軟件,適合國(guó)內(nèi)復(fù)雜的生產(chǎn)環(huán)境。?。希簦澹搿。常埃靶妥詣?dòng)光學(xué)檢測(cè)儀采用的是線形掃描方式采集圖像,最小能檢測(cè)0402器件,具有業(yè)界最佳的性能價(jià)格比,是中小加工企業(yè)的首選檢測(cè)設(shè)備。


 

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