7月24日，HORIBA Jobin Yvon推出了該公司最新一代GD-PROFILER（TM）2型輝光放電光譜儀。該儀器采用了全新的高速電子學(xué)設(shè)計(jì)，從而使其深度分辨率達(dá)到小于1nm。同時，系統(tǒng)采用了著名的脈沖RF源，可以輕松應(yīng)對熱敏性導(dǎo)電和不導(dǎo)電表面的分析。獨(dú)特的HDD檢測器使得對于每一個元素分析的動態(tài)范圍可瞬時達(dá)到十個數(shù)量級。而儀器的大體積樣品室則進(jìn)一步擴(kuò)展了其應(yīng)用范圍。