澳大利亞聯(lián)邦科學(xué)與工業(yè)研究組織（CSIRO）的研究人員們研制成功一種新型X射線顯微鏡，它能夠?qū)Σ煌该骰蚨鄬咏Y(jié)構(gòu)的物體內(nèi)部進行高分辨率成像。 以前X射線技術(shù)不能在微米水平上進行高分辨率成像，尤其是對X射線吸收率非常小的物體。最近，CSIRO的科學(xué)家們利用高性能X射線顯微鏡和多種X射線相差成像技術(shù)，可以直接對不透明或多層機構(gòu)物體內(nèi)部成像。 斷層X射線掃描成像技術(shù)是通過在不同角度成像進而重建出物體的三維結(jié)構(gòu)的技術(shù)，它可以轉(zhuǎn)動或者對多層結(jié)構(gòu)進行非常細(xì)微的成像。 CSIRO與XRT公司合作開發(fā)的這些X射線設(shè)備與方法還在不斷完善中，他們想要把這種技術(shù)用于工業(yè)上的早期損傷探測上去。X射線超倍顯微鏡可以把不透明或多層結(jié)構(gòu)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)成像分辨率提高到亞微米水平，達(dá)到50納米。而商業(yè)應(yīng)用的X射線微聚焦源的分辨率只能達(dá)到1微米左右。 這種新型X射線成像方法可以應(yīng)用于材料科學(xué)、空間技術(shù)、生命科學(xué)、食品檢測、微電子學(xué)和地質(zhì)學(xué)。它還能應(yīng)用于生物技術(shù)，以及下一代能源產(chǎn)品中的微電子器件與材料。