“X射線掃描式CCD直接數(shù)字成像技術(shù)研究”26日通過(guò)甘肅省科技廳組織的科技成果鑒定會(huì)，國(guó)家創(chuàng)新基金項(xiàng)目《X射線掃描式CCD直接數(shù)字成像技術(shù)研究》，猶如使數(shù)碼相機(jī)代替膠片相機(jī)技術(shù)一樣，使我國(guó)X射線探傷進(jìn)入無(wú)膠片時(shí)代，是X射線無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的一次重要進(jìn)步。 X射線掃描式CCD直接數(shù)字成像技術(shù)是將一種新型的射線探測(cè)CCD，即“電荷耦合器件”，單元排列成一個(gè)陣列，并將它們直接與大規(guī)模集成電路連在一起，同步完成射線接收、光電轉(zhuǎn)換、數(shù)字化的全過(guò)程。在該項(xiàng)目研究過(guò)程中，綜合應(yīng)用了新材料、精密加工、集成電路和圖像數(shù)據(jù)采集、軟件工程、數(shù)據(jù)處理等一系列先進(jìn)技術(shù)，可以保證設(shè)計(jì)制造的掃描式CCD直接數(shù)字成像器具有良好的技術(shù)特性和可靠性。 這種“射線－數(shù)字”的直接轉(zhuǎn)換方法，大大減小了信號(hào)長(zhǎng)距離傳輸和變換過(guò)程中產(chǎn)生的噪聲信號(hào)，配合使用相應(yīng)的濾波電路可以獲得低噪聲、高靈敏度圖像。組成陣列的每一個(gè)射線探測(cè)單元都是經(jīng)過(guò)精加工制成的，其幾何尺寸僅為幾十微米，因此具有極高的空間分辨率。特殊的制造技術(shù)可以保證探測(cè)器承受高能X射線的直接照射而不損壞。同時(shí)，環(huán)境適應(yīng)能力非常強(qiáng)，如抗強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)、高溫、潮濕、灰塵等。 業(yè)內(nèi)專家認(rèn)為，這項(xiàng)研究應(yīng)用的技術(shù)手段先進(jìn)，在成像方法、成像質(zhì)量、應(yīng)用范圍等方面都有突破，研究成果具有很大的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益，可以基于這項(xiàng)成果開(kāi)發(fā)出各類滿足不同的應(yīng)用領(lǐng)域的X射線掃描式直接數(shù)字成像裝置。