由北京市政府主辦、北京市科協(xié)承辦的“2005年北京科技周”期間，北京測繪學(xué)會、中國測繪學(xué)會工程測量分會于2005年5月24日～26日在北京農(nóng)業(yè)展覽館聯(lián)合舉辦“2005北京測繪科技博覽會”。 博覽會三大主題為：測繪科技發(fā)展論壇、測繪科技成果展和國際測繪先進(jìn)儀器設(shè)備展。 測繪科技發(fā)展論壇將有多位我國測繪界專家、學(xué)者及領(lǐng)導(dǎo)出席，討論我國測繪與地理信息行業(yè)發(fā)展趨勢，交流測繪行業(yè)的發(fā)展與我國其它基礎(chǔ)建設(shè)的緊密聯(lián)系。國際測繪技術(shù)展覽將展出來自瑞士、美國、日本等國際著名測繪與地理信息行業(yè)的先進(jìn)技術(shù)和儀器設(shè)備。測繪科技成果展將展示中國測繪科學(xué)研究院、國家基礎(chǔ)地理信息中心、中國地圖出版社等多家單位的測繪成果。